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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IEICE-ICD, IEICE-SDM
(共催)
IST
(連催) [詳細]
2023-08-03
14:40
北海道 北海道大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
Real-Time Gate Current Change Gate Driver IC to Adapt to Operating Condition Variations of SiC MOSFETs
Dibo ZhangKohei HoriiKatsuhiro HataMakoto TakamiyaUTokyo
 [more]
IEICE-ICD, IEICE-SDM
(共催)
IST
(連催) [詳細]
2023-08-03
15:05
北海道 北海道大学
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
Gate Driver IC with Fully Integrated Overcurrent Protection by Measuring Gate-to-Emitter Voltage
Haifeng ZhangDibo ZhangHiromu YamasakiKatsuhiro HataUniv. of Tokyo)・Keiji WadaTokyo Metropolitan Univ.)・Kan AkatsuYokohama National Univ.)・Ichiro OmuraKyusyu Institute of Technology)・Makoto TakamiyaUniv. of Tokyo
 [more]
IST 2016-11-17
16:30
東京 東工大田町キャンパス [ポスター講演]Depth Map Estimation and Restoration of an Improved-quality Image from Multi-aperture Images
Kuniyuki Kugenuma・○Takashi KomuroSaitama Univ.)・Bo ZhangKeiichiro KagawaShoji KawahitoShizuoka Univ.
 [more] IST2016-49
pp.3-4
IST 2016-09-26
15:20
東京 機械振興会館 準フォトンカウンティングレベルCMOSイメージセンサを用いたマルチアパーチャカメラの最尤推定法によるRTSおよびフォトンショットノイズの低減
石田陽樹香川景一郎徐 珉雄静岡大)・小室 孝埼玉大)・張 博高澤大志安富啓太川人祥二静岡大
本研究の目的は,シングルアパーチャ光学系では実現困難なF値1を大きく下回る極めて明るいレンズを,マルチアパーチャ光学系に... [more] IST2016-45
pp.15-18
IST 2016-05-06
14:15
東京 東京理科大学 森戸記念館 フォトンカウンティングイメージセンサを用いた超高感度マルチアパーチャカメラの研究
石田陽樹張 博香川景一郎徐 珉雄高澤大志安富啓太川人祥二静岡大
我々は,シングルアパーチャ光学系では実現困難な1を大きく下回るF値をもつ超高感度カメラを,マルチアパーチャ光学系により仮... [more] IST2016-25
pp.17-20
IST 2015-05-08
13:10
東京 東京理科大学 森戸記念館 [ポスター講演]低照度マルチアパーチャ画像からのデプスマップ推定
久下沼国之小室 孝埼玉大)・張 博香川景一郎川人祥二静岡大
本研究では,CMOSイメージセンサを2次元アレイ状に配置したマルチアパーチャカメラシステムにより撮影した低SNR画像から... [more] IST2015-25
pp.5-8
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