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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HI 2025-03-18
10:35
ONLINE オンライン AIを活用した光色による感情変化の定量的評価
国貞直弥高橋 宏神奈川工科大
 [more] HI2025-15
pp.1-3
HI 2025-03-18
11:00
ONLINE オンライン ipRGC応答が中心視でのコントラスト感度へ及ぼす影響
石金誠理倉島 尊高橋 宏神奈川工科大)・鈴木雅洋ノートルダム清心女子大)・内川惠二神奈川工科大
 [more] HI2025-16
pp.4-6
IEE-CMN, BCT
(共催)
IEICE-OCS, IEICE-OFT
(併催)
(連催) ※学会内は併催 [詳細]
2023-11-10
10:35
京都 YIC京都
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
低コヒーレンスBOCDRに基づく高精度な歪分布測定:シミュレーションと実験的検証
大坪謙太朱 光韜清住空樹横浜国大)・高橋 央横浜国大/NTT)・古敷谷優介NTT)・水野洋輔横浜国大
光ファイバに沿った歪や温度の分布を測定する技術として、ブリルアン散乱に伴う周波数シフトの歪や温度に対する依存性を利用した... [more]
IST 2018-03-09
12:00
東京 NHK 放送技術研究所講堂 [招待講演]画素/DRAM/Logic 3層積層CMOSイメージセンサ技術
津川英信高橋 洋中邑良一梅林 拓荻田知治岡野仁志岩瀬和也川島寛之山崎孝次米山大輔橋爪 淳中島 務村田顕一金石芳和池田健児田谷圭司中山 創春田 勉野本哲夫ソニー
 [more] IST2018-17
pp.25-29
IST 2017-03-10
13:20
東京 NHK放送技術研究所講堂 A 1/2.3in 20Mpixel 3-Layer Stacked CMOS Image Sensor with DRAM
春田 勉・○中島 務橋爪 淳梅林 拓高橋 洋谷口一雄黒田真実住広 博榎 弘二ソニーセミコンダクタソリューションズ)・山崎孝次ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング)・池澤勝也北原 淳全 真生大山将史古賀洋貴ソニーセミコンダクタソリューションズ
 [more] IST2017-13
pp.19-22
BCT, IEE-CMN
(連催)
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(併催) [詳細]
2016-11-11
13:10
長崎 長崎商工会議所 (長崎市) 周波数掃引パルスによるブリルアン散乱を利用した動的歪測定
鬼頭千尋高橋 央戸毛邦弘真鍋哲也NTT
 [more]
IEICE-OFT, IEICE-OCS
(連催)
BCT, IEE-CMN
(連催) [詳細]
2015-11-13
13:25
愛媛 松山市民会館 線形周波数掃引ポンプパルスによる分岐下部試験技術
高橋 央鬼頭千尋戸毛邦弘真鍋哲也NTT
(事前公開アブストラクト) PONの分岐下部ファイバの損失分布試験可能な方法として、遠端反射ブリルアン測定法を提案してい... [more]
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