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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
IST 2015-09-18
14:30
東京 機械振興会館 バックゲート表面電位固定構造を用いた完全空乏化SOIピクセル検出器の性能評価
亀濱博紀シュレスタ シュミート安富啓太香川景一郎静岡大)・武田彩希鶴 剛京大)・新井康夫高エネ研)・川人祥二静岡大
 [more] IST2015-52
pp.37-40
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