| 研究会情報 |
| 研究会 |
IDY IEICE-EID SID-JC |
| 開催期間 |
2024-08-02 - 2024-08-02 |
| 開催地（和） |
オンライン開催（ZOOM） |
| 開催地（英） |
Online |
| テーマ（和） |
ディスプレイ一般 |
| テーマ（英） |
Information Display |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
IDY |
| 会議コード |
2024-08-IDY-EID-JC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
外部量子効率と電気的試験を含む電界発光の高並列単一試験によるマイクロLEDデバイスの試験コスト削減 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Breakthrough for Test Cost Reduction on Micro-LED Device with High Parallel Single Insertion Testing of Electric-Luminescence including External Quantum Efficiency and Electrical Test |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
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| キーワード(2)（和/英） |
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| キーワード(3)（和/英） |
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| キーワード(4)（和/英） |
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| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
長谷川 宏太郎 / Kotaro Hasegawa / ハセガワ コウタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） |
(株)アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
ADVANTEST CORPORATION (略称： ADVANTEST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
宮内 康司 / Koji Mitauchi / ミヤウチ コウジ |
| 第2著者 所属（和/英） |
(株)アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
ADVANTEST CORPORATION (略称： ADVANTEST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
加賀 博史 / Hiroshi Kaga / カガ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） |
(株)アドバンテスト (略称： アドバンテスト)
ADVANTEST CORPORATION (略称： ADVANTEST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第4著者 所属（和/英） |
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| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第5著者 所属（和/英） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 所属（和/英） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 所属（和/英） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第8著者 所属（和/英） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 所属（和/英） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 所属（和/英） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 所属（和/英） |
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| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第12著者 所属（和/英） |
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| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第13著者 所属（和/英） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 所属（和/英） |
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| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第15著者 所属（和/英） |
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| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第16著者 所属（和/英） |
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| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第17著者 所属（和/英） |
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| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第18著者 所属（和/英） |
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| 第19著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第19著者 所属（和/英） |
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| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第20著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第3著者 |
| 発表日時 |
2024-08-02 14:55:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
IDY |
| 資料番号 |
IDY2024-28 |
| 巻番号（vol） |
vol.48 |
| 号番号（no） |
no.25 |
| ページ範囲 |
p.16 |
| ページ数 |
1 |
| 発行日 |
2024-07-26 (IDY) |