| 研究会情報 |
| 研究会 |
HI IEICE-IE IEICE-ITS MMS ME AIT |
| 開催期間 |
2020-02-27 - 2020-02-28 |
| 開催地（和） |
北海道大学 |
| 開催地（英） |
Hokkaido Univ. |
| テーマ（和） |
画像処理および一般 |
| テーマ（英） |
Image Processing, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
IEICE-IE |
| 会議コード |
2020-02-HI-IE-ITS-MMS-ME-AIT |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
深層学習による幾何学的エッジ抽出を用いた単眼奥行き推定 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Learning Structural Edges for Deep Patch Depth Prediction |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
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| キーワード(2)（和/英） |
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| キーワード(3)（和/英） |
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| キーワード(4)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
金子 真也 / Masaya Kaneko / カネコ マサヤ |
| 第1著者 所属（和/英） |
東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： The Univ. of Tokyo) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
櫻田 健 / Ken Sakurada / サクラダ ケン |
| 第2著者 所属（和/英） |
産業技術総合研究所 (略称： 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
池畑 諭 / Satoshi Ikehata / イケハタ サトシ |
| 第3著者 所属（和/英） |
国立情報学研究所 (略称： NII)
National Institute of Informatics (略称： NII) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
相澤 清晴 / Kiyoharu Aizawa / アイザワ キヨハル |
| 第4著者 所属（和/英） |
東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： The Univ. of Tokyo) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第24著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第25著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第26著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第27著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第28著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第29著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第30著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第31著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第32著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第33著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第34著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第35著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2020-02-27 15:55:00 |
| 発表時間 |
15分 |
| 申込先研究会 |
IEICE-IE |
| 資料番号 |
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| 巻番号（vol） |
vol.44 |
| 号番号（no） |
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| ページ範囲 |
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| ページ数 |
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| 発行日 |
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