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講演抄録／キーワード
講演名 2019-08-08 10:00
極値理論を利用した最大SRAMデータ保持電圧の統計解析
○水谷朋子・竹内　潔・更屋拓哉・小林正治・平本俊郎（東大）
抄録 （和） (まだ登録されていません) 
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文献情報 映情学技報
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研究会情報
研究会 IEICE-SDM IEICE-ICD IST  
開催期間 2019-08-07 - 2019-08-09 
開催地（和） 北海道大学 情報科学院 3F A31 
開催地（英） Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and 
テーマ（和） アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ（英） Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IEICE-SDM 
会議コード 2019-08-SDM-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル（和） 極値理論を利用した最大SRAMデータ保持電圧の統計解析 
サブタイトル（和）  
タイトル（英） Application of Extreme Value Theory to Statistical Analyses of Worst Case SRAM Data Retention Voltage 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 水谷 朋子 / Tomoko Mizutani / ミズタニ トモコ
第1著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） 竹内 潔 / Kiyoshi Takeuchi / タケウチ キヨシ
第2著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） 更屋 拓哉 / Takuya Saraya / サラヤ タクヤ
第3著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） 小林 正治 / Masaharu Kobayashi / コバヤシ マサハル
第4著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） 平本 俊郎 / Toshiro Hiramoto / ヒラモト トシロウ
第5著者 所属（和/英） 東京大学 (略称： 東大)
The University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-08-08 10:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IEICE-SDM 
資料番号  
巻番号（vol） vol.43 
号番号（no）  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  

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